電池片EL模組
簡介
此EL檢測模塊，使用全自主開發(fā)的檢測軟件，人性化的軟件界面布局，簡潔明了的參數(shù)設(shè)置選項(xiàng)，使用戶更易上手。
缺陷檢出標(biāo)準(zhǔn)可根據(jù)現(xiàn)場情況靈活調(diào)整，從缺陷長度、缺陷面積、缺陷個(gè)數(shù)、缺陷發(fā)黑程度以及缺陷密集度等不同評定標(biāo)準(zhǔn)檢出缺陷。
模塊為標(biāo)準(zhǔn)檢測模塊，可同時(shí)適用于單晶和多晶電池片的缺陷檢測，可方便的集成入各類在線/離線電池片自動(dòng)分選機(jī)中，此項(xiàng)檢測和分選工序可以大大減少市面上不良電池片的流通，降低組件功率受損，是太陽能電池片生產(chǎn)測試中是極為重要的一環(huán)。
產(chǎn)品特性
兼容多晶、單晶電池片
自動(dòng)篩選缺陷，節(jié)約人力成本
可調(diào)整多種篩選條件設(shè)定定制化EL檢測標(biāo)準(zhǔn)
自動(dòng)統(tǒng)計(jì)各缺陷與良品數(shù)量及比例并保存圖像
產(chǎn)能大于3600片/小時(shí)
技術(shù)指標(biāo)
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可檢測缺陷 |
隱裂、斷柵、劃傷、污染、黑斑、絨絲、霧狀、麻點(diǎn)等 |
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模塊產(chǎn)能 |
＞3600p/H |
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相機(jī)類型 |
高清紅外相機(jī) |
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適用電池片規(guī)格： |
156至210mm(±0.5mm) ， 160~200μm |
缺陷圖像
單晶隱裂 單晶斷柵 單晶黑斑 單晶劃傷
多晶隱裂 多晶斷柵 多晶污染 多晶劃傷
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